揮發(fā)油測定器檢測以及三個(gè)重要組成部分

時(shí)間：2020-04-09作者：四川納卡檢測服務(wù)有限公司瀏覽：1454

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  詞條說明

• X射線熒光光譜分析（XRF）

  # X射線熒光光譜分析：揭開物質(zhì)成分的神秘面紗X射線熒光光譜分析（XRF）作為一種非破壞性的檢測技術(shù)，在現(xiàn)代材料科學(xué)、地質(zhì)勘探、環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。這項(xiàng)技術(shù)通過高能X射線激發(fā)樣品中的原子，使其發(fā)射出特征X射線熒光，從而實(shí)現(xiàn)對樣品成分的定性和定量分析。## 技術(shù)原理與核心優(yōu)勢XRF技術(shù)的物理基礎(chǔ)是原子內(nèi)層電子的躍遷過程。當(dāng)高能X射線轟擊樣品時(shí)，會擊出原子內(nèi)層電子形成空穴，外層電子隨即填補(bǔ)這

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  為什么要做環(huán)境可靠性試驗(yàn)?1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況;2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收;4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選擇用產(chǎn)品提供依據(jù)。環(huán)境可靠性試驗(yàn)分類如下：通常環(huán)境可靠性試驗(yàn)分為包括以下三類：力學(xué)環(huán)境試驗(yàn)

• 新品磁導(dǎo)率測試儀的方法原理以及功能

  磁導(dǎo)率μ等于磁介質(zhì)中磁感應(yīng)強(qiáng)度B的微分與磁場強(qiáng)度H的微分之比，即μ=dB / dH通常使用的是磁介質(zhì)的相對磁導(dǎo)率μr，其定義為磁導(dǎo)率μ與真空磁導(dǎo)率μ0之比，即μr=μ/μ0相對磁導(dǎo)率μr與磁化率χ的關(guān)系是:μr=1+χ磁導(dǎo)率μ，相對磁導(dǎo)率μr和磁化率χ都是描述磁介質(zhì)磁性的物理量。對于順磁質(zhì)μr>1;對于抗磁質(zhì)μr<1，但兩者的μr都與1相差無幾 。在大多數(shù)情況下,導(dǎo)體的相對磁導(dǎo)率等于1

• 電機(jī)噪音檢測方式和安裝方式

  電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，產(chǎn)生的噪音有三個(gè)方面，一是電磁噪音，二是機(jī)械噪音，三是通風(fēng)噪聲。1、電磁噪聲。主要是有氣隙諧波磁場引起的，定轉(zhuǎn)子齒諧波磁通相互作用而產(chǎn)生的徑向交變磁拉力，會引起定子鐵芯軛部產(chǎn)生周期性的動態(tài)徑向變形，激發(fā)定子產(chǎn)生電磁噪聲。另外，鼠籠轉(zhuǎn)子斷條、繞線轉(zhuǎn)子匝間短路、轉(zhuǎn)子偏心、定子繞組不對稱或匝間短路等，均會引起電磁噪聲。2、機(jī)械噪聲。主要是軸承噪聲及結(jié)構(gòu)件共振噪聲，其次是旋轉(zhuǎn)振動噪聲。3、通風(fēng)