表面成分分析需要的工具有哪些？

時間：2019-12-23作者：深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：324

深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于表面微觀形貌SEM,材料斷口觀察SEM,表面成分分析EDS,微量污染物成分分析,涂鍍層厚度測試,表面粗糙度量測等

• 詞條

  詞條說明

• X射線光譜方法測定

  X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長和能量的二次輻射，這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量（若密度已知，則為覆蓋層線性厚度）和二次輻射強度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知，同時又給出實際的密度，則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。測試設(shè)

• 成分分析的作用及目的

  成分分析的目的了解原料成份，質(zhì)量監(jiān)控分析產(chǎn)品中的各個組分比例，還原產(chǎn)品配方為產(chǎn)品標(biāo)簽尋找證據(jù)證明產(chǎn)品不含某成份為產(chǎn)品性能下降找原因了解成份含量，以了解產(chǎn)品性能解決生產(chǎn)過程出現(xiàn)的問題比較不同時期的產(chǎn)品成分分析的作用煉鋼爐前分析——控制產(chǎn)品質(zhì)量分析組成成分----還原配方工業(yè)問題診斷----分析原因，消除隱患成品檢驗——合格產(chǎn)品的質(zhì)保書深圳市啟威測標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立

• 表面微觀形貌的測量與評定

  表面形貌評定的**在于對特征信號無失真的提取和對使用性能的量化評定，國內(nèi)外學(xué)者在這一方面做了?大量工作，提出了許多分離與重構(gòu)方法。隨著當(dāng)今微機處理技術(shù)、集成電路技術(shù)、機電一體化技術(shù)等的發(fā)展。出現(xiàn)了用分形法、Motif法、功能參數(shù)集法、時間序列技術(shù)分析法、小二乘多項式擬合法、濾波法等各種評定理論與方法，**了顯著進展。表面是由粗糙度，波紋度和表面形狀誤差3個部分構(gòu)成的。隨著現(xiàn)代測量精度的不

• 聚焦離子束（FIB）在成分分析中的應(yīng)用

  焦離子束工作原理：? 聚焦離子束顯微鏡(FIB)的利用鎵(Ga)金屬作為離子源，再加上負(fù)電場?(Extractor)?牽引**細(xì)小的鎵原子，而導(dǎo)出鎵離子束再以電透鏡聚焦，經(jīng)過一連串可變孔徑光闌，決定離子束的大小，再經(jīng)過二次聚焦以很小的束斑轟擊樣品表面，利用物理碰撞來進行特定圖案的加工，一般單粒子束的FIB(Single Beam FIB)，可以提供材料切割、沉積金屬、