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詞條說明
產(chǎn)品簡介 描述: S3采用GNR多項(xiàng)良好的技術(shù),串行讀出系統(tǒng)設(shè)計(jì)、TRS火花激發(fā)等,保證了這款儀器在獲得優(yōu)異分析性能的同時還具有較高的性價比。 特點(diǎn): *的全譜直讀光譜儀 幾乎滿足絕大多數(shù)金屬檢測需求 較高的檢測精度及準(zhǔn)確度 GNR直讀光譜儀高精密度光柵:3600條/mm 配合3648像素CCD,確保同類型CCD直讀光譜儀中高精密度。 同時GNR直讀光譜儀具有創(chuàng)新的光源設(shè)計(jì):芯片式電阻設(shè)計(jì)
一、 制樣要求 樣品制備總的原則: A. 盡可能多地使待測組分不受損失,也不能帶進(jìn)待測組分進(jìn)入; B. 盡可能多地排除干擾; C. 盡可能得到較佳濃度,調(diào)整稱樣量和溶液體積,這都直接關(guān)系到被測元素的濃度; D. 盡可能多地保證費(fèi)用較省,根據(jù)實(shí)際情況,在結(jié)果精密度、測試方法、時耗、物耗、人力消耗之間綜合平衡,決定樣品處理的具體方法。制備出待測的試樣溶液。 二、制樣方法 (1)樣品的制備 1)取樣有代
五大方法是指射線探傷法、超聲波探傷法、磁粉探傷法、渦流探傷法和滲透探傷法。 1、射線探傷方法 射線探傷是利用射線的穿透性和直線性來探傷的方法。這些射線可使照相底片感光,也可用特殊的接收器來接收。常用于探傷的射線有x光和同位素發(fā)出的γ射線,分別稱為x光探傷和γ射線探傷。當(dāng)這些射線穿過(照射)物質(zhì)時,該物質(zhì)的密度越大,射線強(qiáng)度減弱得越多,即射線能穿透過該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時,若用照相底片接收,則底片
在火花直讀光譜儀標(biāo)準(zhǔn)化中,只需要高的或低含量的標(biāo)準(zhǔn)就可以了。如果樣品能覆蓋的含量范圍較寬,又要在低含量時有較高的精度才需要二點(diǎn)標(biāo)準(zhǔn)化。這時要有二種標(biāo)樣,一為高標(biāo),一為低標(biāo)?;蛘呙總€標(biāo)樣中可包含一些高濃度元素以及另一些低濃度元素,只要它們能包括所有元素就行。 高濃度值及低濃度值不一定正好在火花直讀光譜儀校準(zhǔn)范圍的蕞**或蕞低端。但是它們應(yīng)該接近這個范圍的蕞**以及蕞低端,它們之間應(yīng)有足夠的差值。使
公司名: 江蘇力彩科技有限公司
聯(lián)系人: 袁成明
電 話: 0515-85313382
手 機(jī): 18051721168
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地 址: 江蘇鹽城東臺市緯一路1號
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