快速溫度變化試驗(yàn)箱特點(diǎn)

時(shí)間：2016-11-16作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：127

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

  非飽和加速壽命試驗(yàn)箱（又名PCT加速老化試驗(yàn)機(jī)）主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度/濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿著膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。加速壽命試驗(yàn)的目的：提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度、氣壓）與工作應(yīng)力（如：電壓、負(fù)荷等）加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品的壽命試驗(yàn)時(shí)間。用于調(diào)查分析電子元器件、機(jī)械零件等的

• 高低溫沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī)

  高低溫沖擊試驗(yàn)箱制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī) 制冷系統(tǒng)及壓縮機(jī) 為了保證高低溫沖擊試驗(yàn)箱降溫速率和較低溫度的要求，本試驗(yàn)箱采用一套進(jìn)口德國(guó)半封閉壓縮機(jī)所組成的二元復(fù)疊式水冷制冷系統(tǒng)（需在室外安裝每小時(shí)冷卻水量為10噸的循環(huán)冷卻水塔，由用戶提供）。復(fù)疊式制冷系統(tǒng)包含一個(gè)高溫制熱循環(huán)和一個(gè)低溫制冷循環(huán)，其連接容器為蒸發(fā)冷凝器，蒸發(fā)冷凝器是也到能量傳遞的作用，將工作室內(nèi)熱能通過(guò)兩級(jí)制冷系統(tǒng)傳遞出去，實(shí)現(xiàn)降溫的目的

• 紫外光加速老化試驗(yàn)機(jī)（Q8UV老化機(jī)）

  您的產(chǎn)品能否承受日曬雨淋?陽(yáng)光和水份是戶外產(chǎn)品的較大敵人，Q8 能模擬陽(yáng)光、雨露造成的損害，符合多項(xiàng)**認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。改善傳統(tǒng)耐候試驗(yàn)機(jī)結(jié)構(gòu)復(fù)雜、保養(yǎng)困難的缺點(diǎn)。Q8采整體式設(shè)計(jì)，可程控設(shè)定每天 24小時(shí)每周7天不間斷紫外光及雨露耐候試驗(yàn)。只要幾天或數(shù)星期的時(shí)間，就可再現(xiàn)室外幾個(gè)月、甚至數(shù)年時(shí)間才會(huì)發(fā)生的損傷，包括顏色變化、光澤損失、粉化、起霧、脆變、強(qiáng)度降低等各種現(xiàn)象。 Q8/UV2/UV3標(biāo)準(zhǔn)配備

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200