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詞條說明
XPN-300偏光顯微鏡熔點儀一、用途 XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校較常用的專業(yè)實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業(yè)以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦
技術參數(shù) 參數(shù)PFP7 范圍0 - 199.9ppm 檢出限Na/K 重復性 線性 穩(wěn)定性 記錄輸出Nominal 1.00V for a reading of 100.0 電源90-125V or 190-250V @50/60Hz 氣體不含油脂和水分, 6 L/min @ 14psi 燃料丙烷,丁烷,天然氣或液化石油氣 尺寸(w x d x h)420 x 360 x 300mm 重量8kg
727可見分光光度計儀器的主要技術指標及規(guī)格1、波長范圍:330-860nm 330-1000nm (硅光電池) 2、波長精度:≤±2nm 3、波長重現(xiàn)性:<0.5nm 4、帶寬:5nm 5、雜散光:≤0.6(T)(在360nm處) 6、透光度測量范圍:0-**(T) 7、吸光度測量范圍:0-1.999(A) 8、濃度直讀范圍:0-2000 9、讀數(shù)精度:透過率線性精度:≤0.5%(T) 吸
功能描述 帶寬20 MHz較大實時采樣率100MS/s上升時間17.5ns通道與數(shù)字轉換雙通道獨立的浮地隔離通道萬用表與示波器輸入地是隔離的時基量程5ns-5s/div準確度±(0.01%讀數(shù)+1個像素)垂直靈敏度5mV-5V/div準確度±(5%讀數(shù)+0.05*量程/格)觸發(fā)模式自動、正常、單次、邊沿、視頻波形測量2個光標+5個自動光標與圖像放大有較大記錄長度每通道6K個點屏幕存儲4個屏幕、4
公司名: 北京中儀友信科技有限公司
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